XRF분석기/XRF측정기 _ 도금두께측정기, 환경유해물질측정기

XRF분석기/XRF측정기 _ 도금두께측정기, 환경유해물질측정기 _ 아이엔에프트레이딩

안녕하십니까?

주식회사 아이엔에프트레이딩의 대표이사 장성용입니다.

20년 외길로 오직 XRF분석장비만을 취급해온 INF입니다.

오랜 경험과 축적된 노하우를 바탕으로 본사를 찾은 고객님들게 최상의 분석자비를 공급함과 아울러 체계적인 유지보수 및 관리 서비스르 제공하여 본사의 측정장비를 사용하고 계신 고객분들의 생산관리 및 품질관리에 있어서 소호함이 없도록 최선을 다하겠습니다.

또한, 한걸음 앞선 기술과 서비스 정신으로 고객이 충분히 신뢰하고 만족할수 있도록 확실한 품질 및 책임감 있는 a/s로 정성을 다하겠습니다.

회사 경영목표인 기술만족, 고객만족을 모토로 항상 최선을 다하겠습니다

저희 회사의 분석장비를 사용해 주셔서 감사합니다.

주식회사 아이엔에프 트레이딩

대표이사 장성용

NanoMaster u-Probe

마이크로 형광 X- 선 광학 분광계 [Micro X-ray Fluorescence Spectrometer] NanoMaster 분석장비는 제 3 세대 형광 X- 선 광학 분광계의 대표 시스템입니다 . NanoMaster 분석장비는 X- 선 광학 [X-ray optics] 을 적용하여 측정 가능한 샘플의 분석질점의 범위가 20 μm 에서 300 μm 로 아주 작은 , 심지어 분말상태의 샘플일지라도 분석이 가능합니다 . X- 선 모세관 렌즈 [X-ray capillary lens] 는 X-ray 튜브로부터 방사된 상당히 많은 방사선 [radiation] 을 거의 전부를 모아서 분석하고자 하는 샘플의 질점에 집중시켜 조사하며 , 이 우수한 성능으로 인해 고효율의 최적화된 최소전압의 X- 선 튜[X-ray tube] 를 사용 , 어느 장비보다도 높은 정밀도 , 정확도의 분석결과를 제공합니다

NanoMaster 분석장비 마이크로 광학 분광계의 명백한 우월성

강력하고 높은 성능의 피크 검출 능력은 미세한 백그라운드 [background] 비율 극한의 검출성능 [10 - 50 ppm]

비 - 파괴 분석 [Non destructive analysis] ? X- 선이 샘플에 조사되는 분석지점이 아주 작으므로 [20μm-300μm] 불규칙적이 모양의 샘플까지도 분석가능

부피가 큰 커다란 샘플이 분석가능한 대용량의 샘플 챔버 [chamber: 시료삽입룸 ]

대기중이나 가스계 상태 [ 헬륨 :He] 에서도 분석이 가능하며 , 유기물이나 액체 상태의 샘플도 분석가능 . 인 [P:A/N15] 부터 우라늄 [U:A/N92]

진공상태에서의 분석이 가능 . 나트륨 [Na:A/N11] 부터 우라늄 [U:A/N92]

탄력적으로 조정이 가능한 "VariSpot" 기능이나 광학 모세관 [capillary optics] 을 적용 , X- 선 조사되는 질점에 대한 사이즈 변경은 탄력적으로 조정 가능

PPM - 100wt% 분석성능

모든 종류의 물질 (액체 ,유체 , 가루 , 필름 및 코팅 , 불규칙적인 모양 , 입자 )에 대한 전혀 혹은 최소한의 표본 준비

NonoMaste System

독립적인 NanoMaster 시스템 은 사용의 범용성 그리고 편리함에 최적화된 디자인 시스템 구성요소에 포함된 사양

더 빠르고 간단한 조작으로 아주 작은 입자에 대한 엑스레이 분석을 위한 마이크로 포커스 엑스레이 (Micro-Focus x-ray) 튜브와 고성능 광학 모세관

가장 좋은 감도의 넓은 영역에 대한 Si(Li) 검출기 . 검출기의 부가 위치 지정은 검출기와 시료의 흡수된 엑스레이 사이의 시료 서포트막을 제거합니다 .

자동화된 실험검사들의 간단한 시료 위치 결정과 신속한 셋업에 위한 자동 포커스와 낮은 배율과 높은 배율 Dual CCD 카메라

시료의 크기에 상관없으며 , 컴퓨터로 제어되는 XYZ 스테이지를 포함한 넓고 방사선에 대해 안전하게 설계된 챔버 EDAX Windows ® PC 는 계측기 제어 , 정성분석 , 정량분석을 위한 최신 컴퓨터 분석기 제공

Why Micro-XRF?

마이크로 형광 X-선 분석법 [Micro X-Ray Fluorescence Analysis]은 충분히 검증된 신뢰성을 바탕으로 현재 널리 사용되고 있는 분석 기술로써 , 신속하고 정밀한 정성분석 및 정량분석 테크놀로지입니다 . NanoMasteR 시스템은 고성능 인텐시티 모세관 광학기술 , 더욱 커진 솔리드 -앵글 검출기 , 최신의 디지털 -펄스 프로세셍 전자기술 [DPP electronics] 등이 적용되면서 , 이와 같은 기술적 진보로 인하여 마이크로 X-선 분석은 더욱 탁월한 성능을 구현합니다 . 마이크로 X-선 분석 [MXRF]은 비파괴방식으로 인하여 샘플에 어떠한 손상도 가하지 않으며 , 카본 코팅이나 다른 어떤 분석시 방해가 되는 샘플에 대한 솔루션이 탑재되어 어떤 샘플이라도 쉽게 분석이 가능합니다 . NanoMasteR 시스템은 진공상태 분석을 지원하여 , 특정원소에 대한 보다 정밀하고 미세한 분석이 가능하며 , 샘플에 대하여 라인스캔기능으로 샘플의 각 부위별 다양한 원소의 분포상태를 3차원 입체 영상으로 분석 및 디지털 화면으로 데이터를 표시할 수 있습니다 . 마이크로 X-선 분석은 여러 합금으로 구성된 샘플분석시 한 지점에 대한 분석 및 샘플의 각 위치별 두께 및 함량 , 샘플내 원소의 분포상태등에 대하여 PPM에서 100wt%까지 분석이 가능합니다 . NanoMasteR 시스템에 적용된 3차원 스테이지와 비디오 시스템은 샘플에 대하여 광학 비디오 이미지로 분석하여 시스템에 탑재된 소프트웨어로 자동으로 분석지점을 설정 및 라인스캔을 통하여 독립된 샘플 위치별 분석 , 각각의 분석결과를 종합하여 스펙트럼 맵으로 구현되는 라인스캔 분석데이타를 제공합니다 .

maXXi5/PIN

응용분야

유해물질분석 injurious elements analysis For RoHS and WEEE Measurement 정성분석 Qualitative analysis

정량분석 Quantitative analysis

동질성 -이질성 분석 haracterisation of Inhomogeneous samples

도금두께측정 Coating thickness measurement

maXXi5/PIN 분석장비는 RoHS 및 WEEE 대응을 위한 분석환경에 이상적인 분석성능으로 적합하게 설계된 시스템입니다 . 고성능의 분석능력 합리적인 가격으로 정밀하고 완벽한 분석데이타를 제공하는 성분분석기이면서 , 도금두께 측정기입니다 . maXXi5/PIN분석장비는 고해상도의 실리콘 반도체 검출기 [silicon semiconductor detector]가 적용되어 , 극한의 검출능력 높은 정밀성을 요구하는 사용자에게 적합한 시스템입니다 . 샘플에 대한 동질성 및 이질성 분석 , 다양한 합금원소에 대한 분석 , 유해물질 분석 등 정성분석 , 정량분석에 높은 정밀성을 제공합니다 . 고해상도의 검출성능과 함께 적용된 펄스 -노이즈 판별성능 [signal-to-noise ratio deconvolution]으로 인해 , solar panel과 같이 매우 얇은 박막 및 난해한 도금층에 대한 높은 분석성능의 어플리케이션을 지원합니다 . 대형챔버를 적용하여 큰 사이즈의 자동차부품 , PCB 등에서부터 , 커넥터 , 리드프레임과 같이 작고 정밀한 부품에 이르는 고객의 요구와 다양한 분석작업에 적합하도록 설계되었습니다 . 강력한 성능의 소프트웨어는 고체샘플뿐만 아니라 용액 [liquid sample]상태의 샘플에 대한 분석 솔루션을 제공합니다 .[Ca:원자번호 Z=13부터 분석가능 ]. 또한 다양한 합금소재상에 다양하고 복잡한 도금층에 대한 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . maXXi5/PIN시스템은 품질관리 제품개발에 있어서 다양하고 복잡한 소쟁 대한 분석 및 측정 작업에 있어서 이상적인 장비입니다 .

새로운 펠티에 냉각방식의 Pin_Diode 검출기로써 , 별도의 LN냉각물질을 필요치 않아 유지비가 적게 들어가며 , Si(Li)-검출기는 탁월한 에너지 해상도를 구현합니다 .

다양한 소프트웨어 옵션 사항들은 어떤 응용 프로그램 (도금 두께 및 분석 )에 대해서도 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . I2C 전자제어 시스템을 적용하여 , X-Ray Tube. XYZ-스테이지 , 다중 콜리메타 , 검출기 필터 등 측정 및 분석작업에 있어서 최적화된 모듈을 사용자에게 제공하며 , 20% 이상 유효 -효율 설계로 부품의 성능 (X-선 튜브의 경우 5년 ~8년 이상 사용가능 )이 탁월하고 안정적이며 , Windows 2000/NT환경에서 프로그램되어 사용자에게 매우 친숙한 인터페이스를 제공합니다 .

ComPact5/PIN

응용분야

유해물질분석 injurious elements analysis For RoHS and WEEE Measurement 정성분석 Qualitative analysis

정량분석 Quantitative analysis

동질성 -이질성 분석 haracterisation of Inhomogeneous samples

도금두께측정 Coating thickness measurement

ComPact5/PIN 분석장비는 RoHS 및 WEEE 대응을 위한 분석환경에 이상적인 분석성능으로 적합하게 설계된 시스템입니다 . 고성능의 분석능력 합리적인 가격으로 정밀하고 완벽한 분석데이타를 제공하는 성분분석기이면서 , 도금두께 측정기입니다 . ComPact5/PIN분석장비는 고해상도의 실리콘 반도체 검출기 [silicon semiconductor detector]가 적용되어 , 극한의 검출능력 높은 정밀성을 요구하는 사용자에게 적합한 시스템입니다 . 샘플에 대한 동질성 및 이질성 분석 , 다양한 합금원소에 대한 분석 , 유해물질 분석 등 정성분석 , 정량분석에 높은 정밀성을 제공합니다 . 고해상도의 검출성능과 함께 적용된 펄스 -노이즈 판별성능 [signal-to-noise ratio deconvolution]으로 인해 , solar panel과 같이 매우 얇은 박막 및 난해한 도금층에 대한 높은 분석성능의 어플리케이션을 지원합니다 . 대형챔버를 적용하여 큰 사이즈의 자동차부품 , PCB 등에서부터 , 커넥터 , 리드프레임과 같이 작고 정밀한 부품에 이르는 고객의 요구와 다양한 분석작업에 적합하도록 설계되었습니다 . 강력한 성능의 소프트웨어는 고체샘플뿐만 아니라 용액 [liquid sample]상태의 샘플에 대한 분석 솔루션을 제공합니다 .[Ca:원자번호 Z=13부터 분석가능 ]. 또한 다양한 합금소재상에 다양하고 복잡한 도금층에 대한 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . ComPact5/PIN시스템은 품질관리 제품개발에 있어서 다양하고 복잡한 소쟁 대한 분석 및 측정 작업에 있어서 이상적인 장비입니다 . 새로운 펠티에 냉각방식의 Pin_Diode 검출기로써 , 별도의 LN냉각물질을 필요치 않아 유지비가 적게 들어가며 , Si(Li)-검출기는 탁월한 에너지 해상도를 구현합니다 . 다양한 소프트웨어 옵션 사항들은 어떤 응용 프로그램 (도금 두께 및 분석 )에 대해서도 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . I2C 전자제어 시스템을 적용하여 , X-Ray Tube. XYZ-스테이지 , 다중 콜리메타 , 검출기 필터 등 측정 및 분석작업에 있어서 최적화된 모듈을 사용자에게 제공하며 , 20% 이상 유효 -효율 설계로 부품의 성능 (X-선 튜브의 경우 5년 ~8년 이상 사용가능 )이 탁월하고 안정적이며 , Windows 2000/NT환경에서 프로그램되어 사용자에게 매우 친숙한 인터페이스를 제공합니다 .